分析测试中心举行“固体微观结构成分价态表征系统装置”进口产品专家论证会

1月16日，“固体微观结构成分价态表征系统装置”进口产品专家论证会在分析测试中心514会议室举行，红世一足招标与采购中心、国有资产管理处、财务部、审计处相关负责人出席会议，并聘请国家杰出青年基金获得者、中科院煤化所研究员覃勇，北京工业大学张跃飞教授、北京航空航天大学岳永清副教授，太原钢铁集团张寿禄教授级高工以及山西华炬律师事务所论巩燕律师为论证组专家。

分析测试中心负责人对拟购“固体微观结构成分价态表征系统装置”进行了相关介绍，该系统装置由球差校正透射电子显微镜为主，配套常规先进透射电子显微镜、软X射线电子探针分析仪及横截面离子刻蚀仪等组成，应用于有关固体微观结构、成分和元素价态表征。

与会专家表示，该固体微观结构成分价态表征系统装置对推动现代科技发展起着至关重要的作用。其中，球差校正电子显微镜具有极高的空间分辨率，用于原子尺度上的结构分析和表征；软X射线电子探针分析仪则对块体样品的微观形貌、成分及元素价态进行分析配套设备，是对球差电镜分析功能的重要补充和拓展；横截面离子刻蚀仪主要用于样品表面清洁处理，是为球差校正电子显微镜高分辨分析及软X射线电子探针分析设备进行样品制备的重要附件，该套系统装置的购置将对红世一足材料、化工、机械、矿业、物电、生医、环工、信息等相关学科开展高水平科学研究、培养高水平人才起到巨大的支撑作用，对促进学校“双一流”建设起到不可或缺的作用，对红世一足和我省提升科研实力、产出高水平科研成果、服务山西省创新发展具有重大意义。

最后，专家组一致认为，目前国内没有同类设备生产厂家，建议通过进口进行采购该装置。